apo-summicron

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Sistema M

Leica M9 negra
Leica M9 plata
Leica M9-P negra
Leica M9-P plata
Leica M Monochrom

Leica M negra
Leica M plata
Leica M-E

Objetivos M

18 Super Elmar
21 Summilux
21 Super Elmar
24 Summilux
24 Elmar
28 Summicron
28 Elmarit
35 Summilux
35 Summicron
35 Summarit
50 Noctilux
50 Summilux
50 Summicron
50 Apo-summicron
50 Summarit
75 Summicron
75 Summarit
90 Summicron
90 Summarit
90 Macro Elmar

 

Accesorios M

Bolsa Billingham
Semi Estuche
Estuche neopreno
Batería ion-litio
Cargador de Batería
Lupa de enfoque
Empuñadura

 

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Objetivo APO-SUMMICRON-M 75mm f/2 ASPH consultar comprar accesorios leica
Especificaciones técnicas:
Diametro del filtro E49
Siete lentes distribuidas en cinco grupos
Distancia focal: 74,98 mm
Distancia de enfoque: 0,7 m a infinito
Dimensiones: longitud 66,8 mm- diametro 58 mm
Peso: 430 gr.

Un teleobjetivo corto práctico y luminoso, con una calidad de imagen excelente incluso a máxima apertura y a poca distancia.

Combina todas las posibilidades técnicas de las ópticas de alto rendimiento que hoy se fabrican y dispone de superficies asfericales, cristales especiales con dispersión parcial anómala y elementos flotantes. Una herramienta óptica de primera clase. Ideal para fotografía con luz ambiental y detalles acentuados en fotos de reportaje.

 

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ARTÍCULOS LEICA

Objetivos M

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Leica M9
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foto leica m9
leica m9 summicron 75    
LEICA M9, LEICA APO - SUMMICRON - M 1 : 2/75 mm ASPH., ISO 160, f/2.8, 1/500 s
 
foto
leica m9 summicron 75 jpg    
LEICA M9, LEICA APO - SUMMICRON - M 1 : 2/75 mm ASPH., ISO 200, f/2, 1/180 s
 

 

foto

 

 

Datos técnicos objetivo
El MTF es indicado tanto en plena apertura como en f/5.6 en la tomas a infinito. Se muestra el contraste en porcentajes para 5, 10, 20 y 40 lp/mm a través de película de 35 mm, para lineas tangenciales (línea de puntos) y para lineas sagitales (línea continua) estructuras, en luz blanca. Los 5 y 10 lp/mm darán una indicación en cuanto a el proporción de contraste para estructuras de objeto grandes. El 20 y 40 lp/mm registran la resolución de más fino y las estructuras de objeto más finas.
 

 

 
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